فوتوالکترون

جزوه کامل طیف سنجی آزمون فوتوالکترون پرتو ایکس (XPS)

جزوه کامل طیف سنجی آزمون فوتوالکترون پرتو ایکس (XPS)

جهت مطالعه همه مطالب پیرامون آزمون XPS اینجا کلیک کنید. جزوه کامل طیف سنجی آزمون فوتوالکترون پرتو ایکس (XPS) مربوط به سمینار درسی آنالیز مواد و به زبان فارسی در فایل زیر خدمت پژوهشگران محترم ارائه شده است. عناوین این جزوه عبارتند از: مقدمهپیشینهاصول و فیزیک XPSاثر جابه جایی شیمیایینمونه…

آشنایی با آزمون فوتوالکترونی پرتو ایکس XPS و تفسیر و آنالیز آزمون

آشنایی با آزمون فوتوالکترونی پرتو ایکس XPS و تفسیر و آنالیز آزمون

جهت مطالعه همه مطالب پیرامون آزمون XPS اینجا کلیک کنید. تاریخچه: در سال 1887 اثر فوتوالکتریک  توسط هانریش هرتز کشف شد،در سال 1905 اینشتین این مسئله را با استفاده از فیزیک کوانتم توضیح داد و جایزه نوبل 1921 را از آن خود کرد. در 1907 فردی به نام P.D.Innes با استفاده از لامپ کاتدیسیم پیچ…

روش تحلیل آزمون طیف سنجی فوتو الکترون پرتو ایکس (XPS)

روش تحلیل آزمون طیف سنجی فوتو الکترون پرتو ایکس (XPS)

جهت مطالعه همه مطالب پیرامون آزمون XPS اینجا کلیک کنید. طیف سنجی فوتوالکترون پرتو ایکس، روشی به منظور بررسی سطح نمونه تا عمق حدود ۱۰۰ انگستروم از نظر آنالیز عنصری، ترکیب شیمیایی و تعیین حالت پیوندی است. با توجه به این نکته که انرژی جنبشی الکترونهای گسیل شده بر اثر…

از صفر تا صد آزمون XPS

از صفر تا صد آزمون XPS

جهت مطالعه همه مطالب پیرامون آزمون XPS اینجا کلیک کنید. روش های حساس به سطح، روش هایی هستند که به کمک آن ها می توان آنالیز شیمیایی را در سطح نمونه انجام داد. منظور از آنالیز سطح، تعیین ترکیب شیمیایی سطح نمونه و حداکثر تا عمق ۲۰ لایه اتمی (۵۰…