جهت مطالعه همه مطالب پیرامون آزمون XPS اینجا کلیک کنید.
جزوه کامل طیف سنجی آزمون فوتوالکترون پرتو ایکس (XPS) مربوط به سمینار درسی آنالیز مواد و به زبان فارسی در فایل زیر خدمت پژوهشگران محترم ارائه شده است.
عناوین این جزوه عبارتند از:
مقدمه
پیشینه
اصول و فیزیک XPS
اثر جابه جایی شیمیایی
نمونه سازی
تجهیزات دستگاه XPS
آنالیز کننده ها و آشکار سازهای فوتو الکترون XPS
آنالیز کننده قطاع نیم کره ای (HAS)
آنالیز کننده آینه ای استوانه ای شکل (CMA)
فزاینده الکترونی کانالی (CEMP)
آنالیز کیفی
شناسایی پیک
جابه جایی شیمیایی
مواد عایق
تشکیل تصویر
آنالیز کمی
پروفیل ترکیب در عمق نمونه
جنبه های مهم XPS
مشخصات ویژه ی XPS
کاربردهای روش XPS
مزایا و معایب روش XPS
محدودیت های متداول روش XPS
دقت کمی
زمان آنالیز
حد شناسایی
مساحت اندازه گیری شده
محدودیت های اندازه نمونه
تجزیه نمونه در هنگام آنالیز
جهت خرید این فایل از لینک زیر اقدام به پرداخت فرمایید
با توجه به اشکال درگاه پرداخت پارس پال در روزهای اخیر ممکن است در مسیر پرداخت وجه با خطای پرداخت مواجه شوید. شما می توانید جهت دانلود این مطلب به شماره 09132050479 در واتساپ پیام دهید.
هرگونه انتشار این مطلب در فضای مجازی پیگرد قانونی دارد