جزوه کامل طیف سنجی آزمون فوتوالکترون پرتو ایکس (XPS)

جزوه کامل طیف سنجی آزمون فوتوالکترون پرتو ایکس (XPS)

جزوه کامل طیف سنجی آزمون فوتوالکترون پرتو ایکس (XPS)

جهت مطالعه همه مطالب پیرامون آزمون XPS اینجا کلیک کنید.

جزوه کامل طیف سنجی آزمون فوتوالکترون پرتو ایکس (XPS) مربوط به سمینار درسی آنالیز مواد و به زبان فارسی در فایل زیر خدمت پژوهشگران محترم ارائه شده است.

عناوین این جزوه عبارتند از:

مقدمه
پیشینه
اصول و فیزیک XPS
اثر جابه جایی شیمیایی
نمونه سازی
تجهیزات دستگاه XPS
آنالیز کننده ها و آشکار سازهای فوتو الکترون XPS
آنالیز کننده قطاع نیم کره ای (HAS)
آنالیز کننده آینه ای استوانه ای شکل (CMA)
فزاینده الکترونی کانالی (CEMP)
آنالیز کیفی
شناسایی پیک
جابه جایی شیمیایی
مواد عایق
تشکیل تصویر
آنالیز کمی
پروفیل ترکیب در عمق نمونه
جنبه های مهم XPS
مشخصات ویژه ی XPS
کاربردهای روش XPS
مزایا و معایب روش XPS
محدودیت های متداول روش XPS
دقت کمی
زمان آنالیز
حد شناسایی
مساحت اندازه گیری شده
محدودیت های اندازه نمونه
تجزیه نمونه در هنگام آنالیز

جهت خرید این فایل از لینک زیر اقدام به پرداخت فرمایید




هرگونه انتشار این مطلب در فضای مجازی پیگرد قانونی دارد

پاسخی بگذارید

نشانی ایمیل شما منتشر نخواهد شد. بخش‌های موردنیاز علامت‌گذاری شده‌اند *