جهت مطالعه دیگر مطالب پیرامون آزمون XRD و XRF اینجا کلیک کنید. عوامل مؤثر بر شدت پیک: از عواملی که بر شدت پیک ها در الگوهای پراش تأثیر گذار هستند می توان به موارد زیر اشاره کرد: همچنین جهت انجام تست، تعرفه این آزمون را می توانید از اینجا مشاهده…

جهت مطالعه دیگر مطالب پیرامون آزمون XRD و XRF اینجا کلیک کنید. عوامل مؤثر بر شدت پیک: از عواملی که بر شدت پیک ها در الگوهای پراش تأثیر گذار هستند می توان به موارد زیر اشاره کرد: همچنین جهت انجام تست، تعرفه این آزمون را می توانید از اینجا مشاهده…
جهت مطالعه بقیه مطالب پیرامون آزمون ایدکس اینجا کلیک فرمایید. شناسایی فاز های موجود در ریز ساختار ماده از طریق ترکیب شیمیایی، نقش به سزایی در شناخت و تعیین فاز های مجهول ایفا می کند. طیف سنجی پراکندگی انرژی پرتو ایکس (EDS) برای تجزیه و تحلیل ساختاری و آنالیز عناصر…
جهت مطالعه دیگر مطالب پیرامون آزمون XRD و XRF اینجا کلیک کنید. میتوان گفت مهمترین بخش از آشنایی با XRD، تحلیل دادههایی است که در مورد مواد مختلف از طریق این روش به دست میآیند. روشهایی مانند رابطهی براگ، روش دبای شرر و روش ویلیامسونهال از جمله روشهای تحلیل کمی…
جهت مطالعه همه مطالب پیرامون آزمون XPS اینجا کلیک کنید. طیف سنجی فوتوالکترون پرتو ایکس، روشی به منظور بررسی سطح نمونه تا عمق حدود ۱۰۰ انگستروم از نظر آنالیز عنصری، ترکیب شیمیایی و تعیین حالت پیوندی است. با توجه به این نکته که انرژی جنبشی الکترونهای گسیل شده بر اثر…