جهت مطالعه بقیه مطالب پیرامون آزمون رامان اینجا کلیک کنید در این پژوهش به منظور رشد عمودی نانولوله های کربنی از روش PECVD بر روی لایه ی سیلیکونی و بواسطه ی کاتالیست نیکل استفاده کردیم. لایه نشانی نقره به روش کندوپاش DC در ضخامت های 35، 60، 85 و 100 نانومتر بر بستر نانولوله های کربنی…
جهت مطالعه همه مطالب پیرامون آزمون XPS اینجا کلیک کنید. طیف سنجی فوتوالکترون پرتو ایکس، روشی به منظور بررسی سطح نمونه تا عمق حدود ۱۰۰ انگستروم از نظر آنالیز عنصری، ترکیب شیمیایی و تعیین حالت پیوندی است. با توجه به این نکته که انرژی جنبشی الکترونهای گسیل شده بر اثر…
جهت مشاهده بقیه مطالب پیرامون آزمون Ellipsometry اینجا کلیک کنید. بیضی‌سنجی یک روش توانمند و غیرمخرب برای آنالیز لایه‌های بسیار نازک است. این روش قادر به اندازه‌گیری ضریب شکست، ضریب جذب و ضخامت لایه‌های نازک است. این وسیله بر مبنای این واقعیت ساخته شده‌است که بازتاب از یک فصل مشترک…
جهت مطالعه همه مطالب پیرامون آزمون XPS اینجا کلیک کنید. روش های حساس به سطح، روش هایی هستند که به کمک آن ها می توان آنالیز شیمیایی را در سطح نمونه انجام داد. منظور از آنالیز سطح، تعیین ترکیب شیمیایی سطح نمونه و حداکثر تا عمق ۲۰ لایه اتمی (۵۰…
همه مطالب پیرامون تست FTIR را از اینجا ببینید. جذب نور مرئی یا ماوراء بنفش توسط مواد منجر به انتقال سطح انرژی الکترونی شده و یک طیف جذب الکترونی حاصل میشود. بنابراین طیف سنجی و طیف بینی مرئی-فرابنفش یکی از گسترده ترین تکنیکهای مورد استفاده برای آنالیز کیفی و کمی…