داده

جزوه کامل طیف سنجی آزمون فوتوالکترون پرتو ایکس (XPS)

جزوه کامل طیف سنجی آزمون فوتوالکترون پرتو ایکس (XPS)

جهت مطالعه همه مطالب پیرامون آزمون XPS اینجا کلیک کنید. جزوه کامل طیف سنجی آزمون فوتوالکترون پرتو ایکس (XPS) مربوط به سمینار درسی آنالیز مواد و به زبان فارسی در فایل زیر خدمت پژوهشگران محترم ارائه شده است. عناوین این جزوه عبارتند از: مقدمهپیشینهاصول و فیزیک XPSاثر جابه جایی شیمیایینمونه…

آنالیز مغناطیس سنج نمونه ارتعاشی  (VSM)

آنالیز مغناطیس سنج نمونه ارتعاشی (VSM)

جهت مطالعه مطالب بیشتر درباره آزمون VSM اینجا کلیک کنید دستگاه مغناطیس سنج نمونه ارتعاشی یا به اختصار VSM (Vibrating Sample Magnetometer) جهت اندازه‌گیری خواص مغناطیسی مواد به کار گرفته می­شود. رفتار مغناطیسی مواد مختلف دیامغناطیس، پارامغناطیس، فرومغناطیس و غیره، در شکل‌های مختلف پودر، جامد، فیلم نازک، تک بلور، مایع…

تحلیل کمی و کیفی داده‌های XRD

تحلیل کمی و کیفی داده‌های XRD

جهت مطالعه دیگر مطالب پیرامون آزمون XRD و XRF اینجا کلیک کنید. می‌توان گفت مهم‌ترین بخش از آشنایی با XRD، تحلیل داده‌هایی است که در مورد مواد مختلف از طریق این روش به دست می‌آیند. روش‌هایی مانند رابطه‌ی براگ، روش دبای شرر و روش ویلیامسون‌هال از جمله روش‌های تحلیل کمی…