تفسیر و آنالیز طیف سنجی پراکندگی انرژی پرتو ایکس (EDX, Edax ,EDS)

تفسیر و آنالیز طیف سنجی پراکندگی انرژی پرتو ایکس (EDX, Edax ,EDS)

جهت مطالعه بقیه مطالب پیرامون آزمون ایدکس اینجا کلیک فرمایید. شناسایی فاز های موجود در ریز ساختار ماده از طریق ترکیب شیمیایی، نقش به سزایی در شناخت و تعیین فاز های مجهول ایفا می کند. طیف سنجی پراکندگی انرژی پرتو ایکس (EDS) برای تجزیه و تحلیل ساختاری و آنالیز عناصر…

تحلیل کمی و کیفی داده‌های XRD

تحلیل کمی و کیفی داده‌های XRD

جهت مطالعه دیگر مطالب پیرامون آزمون XRD و XRF اینجا کلیک کنید. می‌توان گفت مهم‌ترین بخش از آشنایی با XRD، تحلیل داده‌هایی است که در مورد مواد مختلف از طریق این روش به دست می‌آیند. روش‌هایی مانند رابطه‌ی براگ، روش دبای شرر و روش ویلیامسون‌هال از جمله روش‌های تحلیل کمی…

تفسیر و آنالیز آزمون TGA

تفسیر و آنالیز آزمون TGA

همه مطالب پیرامون آزمون های حرارتی را از اینجا ببینید. (TGA thermal gravimetric analysis) یک روش تحلیلی حرارتی است که مبنای عملکرد آن تغییر جرم نمونه با تغییر دما، در طول زمان است. این اندازه گیری، اطلاعاتی در مورد پدیده های فیزیکی مانند انتقال فاز، جذب و دفع و همچنین پدیده…

مشخصه یابی نانو لایه های نقره انباشته شده بر بستر نانولوله های کربنی بوسیله طیف سنجی رامان

مشخصه یابی نانو لایه های نقره انباشته شده بر بستر نانولوله های کربنی بوسیله طیف سنجی رامان

جهت مطالعه بقیه مطالب پیرامون آزمون رامان اینجا کلیک کنید در این پژوهش به منظور رشد عمودی نانولوله های کربنی از روش PECVD بر روی لایه ی سیلیکونی و بواسطه ی کاتالیست نیکل استفاده کردیم. لایه نشانی نقره به روش کندوپاش DC در ضخامت های 35، 60، 85 و 100 نانومتر بر بستر نانولوله های کربنی…

بررسی انواع پوشش های رسانا به منظور تصویربرداری با میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM

بررسی انواع پوشش های رسانا به منظور تصویربرداری با میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM

برای دیدن همه مطالب پیرامون آزمون های میکروسکوپی اینجا کلیلک کنید. امروزه مطالعه درباره خواص مواد بدون آگاهی از اطلاعات مربوط به ریزساختار آنها امکان پذیر نیست. به منظور دستیابی به این مهم، استفاده از میکروسکوپ الکترونی روبشیه بسیار رایج و حائز اهمیت است. با توجه به ضرورت به کارگیری…

روش تحلیل آزمون طیف سنجی فوتو الکترون پرتو ایکس (XPS)

روش تحلیل آزمون طیف سنجی فوتو الکترون پرتو ایکس (XPS)

جهت مطالعه همه مطالب پیرامون آزمون XPS اینجا کلیک کنید. طیف سنجی فوتوالکترون پرتو ایکس، روشی به منظور بررسی سطح نمونه تا عمق حدود ۱۰۰ انگستروم از نظر آنالیز عنصری، ترکیب شیمیایی و تعیین حالت پیوندی است. با توجه به این نکته که انرژی جنبشی الکترونهای گسیل شده بر اثر…

معرفی و روش تحلیل آزمون بیضی سنجی (Ellipsometry)

معرفی و روش تحلیل آزمون بیضی سنجی (Ellipsometry)

جهت مشاهده بقیه مطالب پیرامون آزمون Ellipsometry اینجا کلیک کنید. بیضی‌سنجی یک روش توانمند و غیرمخرب برای آنالیز لایه‌های بسیار نازک است. این روش قادر به اندازه‌گیری ضریب شکست، ضریب جذب و ضخامت لایه‌های نازک است. این وسیله بر مبنای این واقعیت ساخته شده‌است که بازتاب از یک فصل مشترک…

معرفی و روش تحلیل آزمون آنالیز مکانیکی دینامیکی (DMA, DMTA)

معرفی و روش تحلیل آزمون آنالیز مکانیکی دینامیکی (DMA, DMTA)

جهت مطالعه مطالب بیشتر درباره موضوع DMTA اینجا کلیک کنید. آنالیز DMTA یکی از تکنیک های حرارتی است که برای شناسایی مواد به خصوص پلیمرها استفاده میشود. DMTA را به سادگی میتوان به صورت اعمال نیروی نوسانی بر یک نمونه و تجزیه و تحلیل پاسخ ماده به آن نیرو تعریف…

معرفی و روش تحلیل آزمون مغناطیس‌سنج نمونه ارتعاشی (VSM)

معرفی و روش تحلیل آزمون مغناطیس‌سنج نمونه ارتعاشی (VSM)

جهت مطالعه مطالب بیشتر درباره آزمون VSM اینجا کلیک کنید. با توجه به پیشرفت تکنولوژی در زمینه مغناطیس و کاربردهای وسیع آن ها در زمینه صنعت، نیاز به ابزاری است که بتوان با استفاده از آن خواص مغناطیسی را بررسی کرد. دستگاه های مغناطیس سنج متفاوتی در این راستا وجود…

معرفی و روش تحلیل آزمون زاویه تماس (contact angle)

معرفی و روش تحلیل آزمون زاویه تماس (contact angle)

جهت مطالعه مطالب بیشتر درباره آزمون زاویه تماس اینجا کلیک کنید ترشوندگی (انگلیسی: Wettability) توانایی یک مایع در برقراری تماس با سطح جامد است و نشأت‌گرفته از نیروهای بین مولکولی می‌باشد. درجه تر شوندگی از تعادل میان نیروهای پیوستگی و چسبندگی تعیین می‌شود. تر شدن، به معنای دیگر، تمایل به کسب…