تحلیل آزمون FE-SEM, TEM

آنالیز SEM پرکاربردترین تجهیزات برای آنالیز سطح می باشد. میکروسکوپ SEM رایج‌ترین نوع میکروسکوپ الکترونی است. این میکروسکوپ ریزساختارمواد را با روبش سطح توسط پرتو الکترونی بررسی می‌کند و مشابه میکروسکوپ‌های نوری، ولی با قدرت تفکیک بسیار بالاتر و عمق میدان بسیار بزرگ­تر، عمل می‌کند. شاید مهم‌ترین ویژگی میکروسکوپ الکترونی روبشی، نمایش سه­ بعدی تصویرهای آن به دلیل عمق میدان بزرگ آن باشد. در مقایسه با میکروسکوپ الکترونی عبوری، کار با میکروسکوپ الکترونی روبشی و نگهداری آن تا حدودی آسان­تر است. به علاوه، میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM با روش­های مختلفی شامل تجهیز شدن با طیف­ سنجی انتشاری انرژی پرتوایکس و طیف­ سنجی انتشاری طول­ موج پرتوایکس امکان دست­یابی به اطلاعات شیمیایی نمونه را نیز فراهم می‌کند.

برای مشاهده دیگر مطالب مربوط به این آزمون روی لینک زیر کلیک کنید:
FESEM & TEM tests