بیضیسنجی یک روش توانمند و غیرمخرب برای آنالیز لایههای بسیار نازک است. این روش قادر به اندازهگیری ضریب شکست، ضریب جذب و ضخامت لایههای نازک است. این وسیله بر مبنای این واقعیت ساخته شدهاست که بازتاب از یک فصل مشترک (سطح) دیالکتریک میتواند قطبش و فاز موج ورودی را تغییر دهد. این تغییرات به ضریب شکست ماده بستگی دارد. این روش میتواند خواص مختلفی از قبیل ضخامت، خواص نوری، مورفولوژی و حتی ترکیبات شیمیایی لایه را نیز مشخص کند. همچنین بیضیسنجی میتواند برای اندازهگیری ضخامت لایههایی با ضخامت نانومتری که روی زیرلایههای مختلف قرار دارند، استفاده شود. حتی به کمک این روش میتوان چندلایهها(Multilayer) را نیز بررسی و مطالعه نمود.
برای مشاهده دیگر مطالب مربوط به این آزمون روی لینک زیر کلیک کنید:
Ellipsometry tests