تحلیل آزمون XPS

طیف سنجی فوتوالکتریک اشعه ایکس (XPS) یکی از ابزارهای استاندارد برای اندازه گیری سطح و تجزیه و تحلیل شیمیایی سطحی یک ماده به شمار می رود. XPS می تواند ترکیب عناصر، فرمول تجربی، وضعیت شیمیایی و وضعیت الکترونیکی عناصر در یک ماده را اندازه گیری کند.طیف XPS توسط تابش یک سطح جامد با پرتو اشعه ایکس به دست می آید در حالی که همزمان اندازه گیری انرژی جنبشی و الکترون هایی که از بالای 1 تا 10 نانومتر ماده مورد بررسی قرار می گیرند، اندازه گیری می شوند.

انرژی و شدت تابش های فوتوالکتریک امکان شناسایی و تعیین مقدار تمام عناصر سطح (به جز هیدروژن) را می دهد.

مهمترين كاربردهاي آزمون XPS را مي توان به شرح ذيل بيان نمود:

1-    شناسايي عناصر (همه عناصر به جز هيدروژن و هليوم  با اين روش قابل شناسايي مي باشند)

2-    تعیین درصد نسبی عناصر

3-    تعيين عناصر آلوده كننده سطح

4-    بررسی برهمکنش های مولکولی در ساختار

5-    تعیین ضخامت لایه ها

برای مشاهده دیگر مطالب مربوط به این آزمون روی لینک زیر کلیک کنید:
XPS tests